Описание измерительной установки - раздел Электротехника, Электротехнические материалы. ОСНОВНЫЕ СВОЙСТВА НЕЛИНЕЙНЫХ ДИЭЛЕКТРИКОВ, ПОЛУПРОВОДНИКОВ, ПРОВОДНИКОВ И МАГНИТНЫХ МАТЕРИАЛОВ Свойства Сегнетоэлектриков Исследуются С Помощью Установки, Принципиальная Эл...
Свойства сегнетоэлектриков исследуются с помощью установки, принципиальная электрическая схема которой представлена на рис.1.8. Напряжение с сегнетоэлектрического кристалла Сх подается на горизонтально отклоняющие пластины осциллографа, таким образом, отклонение луча на экране по горизонтальной оси пропорционально величине поля, приложенного к кристаллу.
Линейный конденсатор С0 имеет емкость значительно большую, чем емкость испытуемого конденсатора с сегнетоэлектриком Сх, и соединен с ним последовательно. Напряжение с конденсатора С0 подается на вертикально отклоняющие плас-тины осциллографа. В этих условиях луч опишет петлю на экране в координатах заряд напряжение. Схема позволяет не только наблюдать петлю гистерезиса на экране осцилло-графа, но и измерять спонтанную поляризацию Рсп и коэрцитивное поле Ек.
В данной работе свойства сегнетоэлектриков исследуются с помощью лабораторной установки, схема которой представлена на рис. 1.9. Установка питается от сети переменного тока с напряжением 220 В. Напряжение на входе измерительной цепи регулируется с помощью автотрансформатора и измеряется вольтметром. Последовательно с испытуемым конденсатором Сх подключатся «линейный» эталонный конденсатор С0=10 мкФ (С0 >> Сх). На последовательно соединенные конденсаторы подается переменное напряжение U, практически полностью прикладываемое к исследуемому конденсатору Сх. Отклонение луча по оси Х осциллографа пропорционально напряжению U1 и полю E = U1/d (d – толщина образца), амплитуду которого можно менять потенциометром R от нуля до некоторого максимального значения U1. Так как конденсаторы соединены последовательно, их заряды равны. Напряжение UQ на конденсаторе С0 формирует вертикальную развертку изображения. Отклонение по оси Y пропорционально напряжению UQ на эталонной емкости. Так как CxUx= C0UQ = Q, то UQ = CxUx/C0 и оно пропорционально εx и, учитывая, что поляризация P = εxE, UQ будет пропорционально P. Таким образом, при периодической развертке на экране будет отображаться зависимость P(E) (либо Q(U)).
Конденсатор С01 (слюдяной, емкостью 2200 пФ) необходим для определения масштабов вертикального и горизонтального отклонения луча осциллографа. Тумблер П4 необходим для включения нагревательного элемента – резистора Rэн.
Порядок выполнения работы
При подготовке к работе необходимо изучить лабораторную установку и инструкции к приборам. Записать технические характеристики используемого оборудования. После собеседования с преподавателем приступить к выполнению лабораторной работы.
Если Вам нужно дополнительный материал на эту тему, или Вы не нашли то, что искали, рекомендуем воспользоваться поиском по нашей базе работ:
Описание измерительной установки
Что будем делать с полученным материалом:
Если этот материал оказался полезным ля Вас, Вы можете сохранить его на свою страничку в социальных сетях:
ТЕХНИКА БЕЗОПАСНОСТИ
При выполнении работ в лаборатории электротехнических материалов студенты обязаны помнить о возможности поражения электрическим током и необходимости соблюдения правил техники безопасности.
Основные положения
Д и э л е к т р и к – это вещество, основным электрическим свойством которого является способность поляризоваться в электрическом поле. Поляризацией называется процесс ограниченного смещения или ор
И горизонтального отклонений луча осциллографа
1.1. Включить осциллограф и прогреть его в течение 10 мин.
1.2. Переключателем П3 замкнуть накоротко горизонтальный вход осциллографа (положение 1).
1.3. Переключатель П2 поставит
Сегнетоэлектрического конденсатора
3.1. По кривой Сcт=f(U) определить напряжение, соответствующее максимальному значению емкости, и с помощью автотрансформатора установить на конденсаторе напряжение, кот
Библиографический список
1. Струков, Б. А. Физические основы сегнетоэлектрических явлений в кристаллах / Б. А. Струков, А. П. Леванюк. – М. : Наука, 1995.– 302 с.
2. Богородицкий, Н. П.
Основные положения
Электрический ток в полупроводниках, как впрочем, и в любых других материалах, определяется концентрацией и подвижностью свободных носителей заряда. Особенностью полупроводников является то, что их
Описание измерительной установки
Принципиальная схема измерительной установки приведена на рис. 2.4. От источника питания через регулятор тока на токозадающие зонды 1 и 4 образца поступает постоянное напряжение смеще
Измерение температурной зависимости проводимости
1.1. Включить установку в сеть 220 В;
1.2. Соответствующим тумблером осуществить выбор исследуемого образца;
1.3. Ознакомиться с градуировкой милливольтметра;
1.4. При ко
Расчет энергетических параметров полупроводника
2.1. Произведя соответствующие расчеты, построить зависимость ln γ = f(1/Т);
2.2. Определить ширину запрещенной зоны исследуемого материала;
2.3. Высказать предположен
Библиографический список
1. Шалимова, К. В. Физика полупроводников / К. В. Шалимова. – М. : Энергоатомиздат, 1985.- 392 с.
2. Пасынков, В. В. Материалы электронной техники / В. В.
Основные положения
Электропроводность металлов, проводников первого рода, обусловлена движением свободных электронов. Проводниками второго рода являются электролиты, в которых прохождение тока связано с движением ион
Определение электрического сопротивления резисторов
Собрать схему для измерения сопротивления резисторов и, последовательно изменяя положение переключателя «Резисторы» П2, измерить сопротивления исследуемых объектов при комнатной т
Обработка результатов измерений
1. Рассчитать удельное сопротивление исследованных металлических проводников;
2. Рассчитать температурный коэффициент удельного сопротивления исследованных металлических проводников;
Библиографический список
1. Пасынков, В. В. Материалы электронной техники / В. В. Пасынков, В. С. Сорокин.- СПб. : Изд-во Лань, 2001.- 368 с.
2. Богородицкий, Н. П. Электротехниче
Общие положения теории магнитного поля
Согласно теории магнитного поля плотность магнитного потока или магнитная индукция B, измеряемая в теслах (Тл), определяется напряженностью магнитного поля H и намагниченностью единицы объем
Порядок выполнения работы
1. Ручку ЛАТР’а вывести в нулевое положение.
2. Включить питание приборов и вывести электронный луч в центр экрана.
3. Поместить образец в пермеаметр.
4. Подать ЛАТР’ом
Библиографический список
1. Матвеев, А. Н. Электричество и магнетизм / А. Н. Матвеев.– М. : Оникс 21 век, 2005.– 464 с.
2. Тамм, И. Е. Основы теории электричества / И. Е. Тамм.– М
Новости и инфо для студентов