рефераты конспекты курсовые дипломные лекции шпоры

Реферат Курсовая Конспект

Понятие времени жизни

Работа сделанна в 1998 году

Понятие времени жизни - Курсовая Работа, раздел Связь, - 1998 год - Исследование взаимосвязи электрофизических параметров кремния полученного методом карботермического восстановления от технологии его получения Понятие Времени Жизни. Неравновесных Носителей Заряда. В Полупроводнике 5,7 П...

Понятие времени жизни. неравновесных носителей заряда. В полупроводнике 5,7 под влиянием внешнего воздействия концентрации электронов и дырок могут изменяться на много порядков.

При термодинамическом равновесии действует принцип детального равновесия, который говорит 1221 1.1 При внешних воздействиях этот принцип нарушается и появляется компонента 12 . При этом в зонах появляются неравновесные носители заряда с концентрациями nn-n0 pp-p0 1.2 Если в полупроводнике нет электрического тока, то изменение концентрации электронов и дырок, при внешнем воздействии, выглядит так dndt Gn-Rn dpdt Gp-Rp 1.3 Gn , Gp означает темп генерации Rn , Rp соответственно темп рекомбинации Для количественного описания приводится схема кинетики неравновесных электронных процессов применяется понятие среднего времени жизни неравновесных электронов в зоне проводимости и дырок в валентной зоне Rnn-n0n Rpp-p0p 1.4 Иначе говоря, 1 есть вероятность исчезновения одного избыточного заряда из одной зоны в единицу времени в следствии рекомбинации dndt Gn-nn dpdt Gp-pp 1.5 Стационарные концентрации неравновесных носителей заряда, устанавливающиеся после длительного воздействия внешней генерации, равны ns Gnn ps Gpp 1.6 Величины n p зависят от физических особенностей элементарных актов рекомбинации электронов и дырок.

При этом n и p, вообще говоря, могут сами зависеть от неравновесных концентраций n и p, а также от температуры.

Поэтому n и p не являются характеристиками данного полупроводника, но зависят еще от условий опыта.

Если np, то и времена n p равны, и мы имеем единое время жизни электронно-дырочных пар np. 3.2 Понятие фотопроводимости. Простейший способ создания неравновесных носителей заряда состоит в освещении полупроводника. Возникновение неравновесных носителей проявляется в изменении электропроводности полупроводника фотопроводимость. Электронные переходы при оптической генерации могут быть различными. Если энергия фотонов h Eg, те неравновесные электроны и дырки образуются вследствие возбуждения электронов из валентной зоны в зону проводимости собственная оптическая генерация, собственная фотопроводимость.

Однако при наличии примесей фотопроводимость может возникать и при h Eg. Оптическая генерация электронов и дырок обязательно сопровождается дополнительным поглощением света. Собственное поглощение света, наблюдается при h Eg и связано с переходами зона-зона и образованием пар. Примесное поглощение, связанное с возбуждением электронов и дырок с примесных уровней в зоны. Поглощение в собственной полосе частот обычно на много порядков больше поглощения в примесной зоне. Темп оптической генерации связан с коэффициентом поглощения света GIx 2.1 -квантовый выход внутреннего фотоэффекта, равный числу носителей заряда, рождаемых в среднем одним поглощенным фотоном Ix - монохроматический световой поток, рассчитанный на единицу поверхности коэффициент поглощения света.

В общем случае g различно в разных точках полупроводника неоднородная генерация.

Изменение проводимости полупроводника обусловлено тем, что при освещении изменяется как концентрация электронов и дырок, так и их подвижность. Однако относительное влияние обоих этих причин может быть весьма различным. Действительно, возникающая в результате поглощения пара электрон-дырка получает некий квазиимпульс и энергию h-Eg. Пусть, для простоты, энергия передается только одному из фотоносителей, скажем электрону что имеет место при сильном различии масс Mn и Mp. Эта избыточная энергия затем растрачивается вследствие взаимодействия фотоэлектрона с решеткой, и через некоторое время, порядка времени релаксации энергии е, средняя энергия фотоэлектрона принимает значение, соответствующее температуре решетки.

Аналогично, равновесное распределение квазиимпульса фотоэлектронов устанавливается за время порядка времени релаксации импульса р. Если еTn, где Tn-время существования фотоэлектрона в зоне, то фотоэлектроны успевают термализоваться, т.е. приобрести такое же распределение по энергиям и квазиимпульсам, как и равновесные электроны.

В этом случае подвижности не изменяются, а фотопроводимость обусловлена только изменением концентрации электронов и дырок и равна eppnn 2.2 Если, напротив еТn, то за время своего существования фотоэлектроны не успевают термализоваться и при освещении изменяются и концентрации фотоносителей, и их подвижности. ddt epng-фп. 2.3 где фпppnnp 2.4 Из уравнения 2.3 видно, что характерное время фп есть время релаксации фотопроводимости, которое определяет темп установления и затухания. В стационарном состоянии фотопроводимость, равна s epngфп 4.5 Отсюда видно, что чем больше фп, тем больше и s, т.е. тем выше чувствительность фотопроводника.

Однако при этом будет и больше время затухания установления фотопроводимости, т.е. будет больше инерционность фотопроводника. С этим противоречием между чувствительностью и быстродействием приходиться считаться при разработке фотосопротивлений для технических целей. 3.3 Многозарядные ловушки в полупроводнике.

В случае многозарядных примесных атомов или дефектов, создающих несколько энергетических уровней, результирующий темп рекомбинации будет равен сумме темпов рекомбинации через каждый из этих уровней 7. Если известны положения всех уровней и известны коэффициенты захвата электронов и, соответственно, дырок для каждого уровня, то можно определить неравновесные степени заполнения каждого уровня и найти результирующий темп рекомбинации а, следовательно, и времена жизни электронов и дырок.

Существенной особенностью рекомбинации через многозарядные ловушки является то, что при изменении температуры или равновесной концентрации электронов может происходить изменение зарядового состояния ловушек, что равносильно изменению природы центров рекомбинации. Рис.2 Рис.3 Уравнения, описывающие кинетику процесса dndt kI-n nM-nnmNcm 3.1 dmdt n n M-n-nmNcm-pmppPmM-m 3.2 dpdt kI-pmppM-mPm 3.3 Для полноты системы уравнений nmp 3.4 В стационарном случае имеем dmdt0 nnM-m-mNcmpmp-M-mPm 3.5 4.

– Конец работы –

Эта тема принадлежит разделу:

Исследование взаимосвязи электрофизических параметров кремния полученного методом карботермического восстановления от технологии его получения

Наиболее чистые материалы получают путем синтеза кремния в газовую фазу SiCl3, последующую очистку и восстановления чистого кремния. Данный метод достаточно дорог для солнечной энергетики, так как в солнечных… В связи с этим, рядом научных и производственных объединений Иркутской области ведутся работы по получению более…

Если Вам нужно дополнительный материал на эту тему, или Вы не нашли то, что искали, рекомендуем воспользоваться поиском по нашей базе работ: Понятие времени жизни

Что будем делать с полученным материалом:

Если этот материал оказался полезным ля Вас, Вы можете сохранить его на свою страничку в социальных сетях:

Все темы данного раздела:

Технология получения столбчатого мультикремния из кремния полученного методом карботермического восстановления
Технология получения столбчатого мультикремния из кремния полученного методом карботермического восстановления. В этом году институтом Геохимии СО РАН проводились работы по совершенствованию методи

Электрофизические параметры и зависимость их от технологий производства
Электрофизические параметры и зависимость их от технологий производства. Электрофизические параметры образцов приведены в таблице 1. NТип провод. Ом см Ом-1 см-1 R см3 кn см-3 см3 в сd см7-1N0.1456

Установка для измерения жизни неравновесных носителей заряда в полупроводниках
Установка для измерения жизни неравновесных носителей заряда в полупроводниках. В данной работе описана установка См. приложение 2 Принципиальная схема устройства. для определения времени жи

Использованные источники
Использованные источники. А.И.Непомнящих. Рост кристаллов. Курс лекции. ИГУ. 1997. 2.Л.П.Павлов. Методы определения основных параметров полупроводниковых материалов. Москва. Высшая школа. 19

Хотите получать на электронную почту самые свежие новости?
Education Insider Sample
Подпишитесь на Нашу рассылку
Наша политика приватности обеспечивает 100% безопасность и анонимность Ваших E-Mail
Реклама
Соответствующий теме материал
  • Похожее
  • Популярное
  • Облако тегов
  • Здесь
  • Временно
  • Пусто
Теги